P250 set
EFT/Burst - Einkopplung bis 6 kV
Kurzbeschreibung
Das Probe Set P250 dient der leitungsgebundenen Messung der Störfestigkeit gegen Impulse direkt in IC-Pins nach IEC 62215-3 und IEC 61000-4-4. Die Kenntnis der Störfestigkeitsparameter gegenüber Impulsen ermöglicht die Optimierung des IC sowie die Festlegung der Anwendungsanforderungen. Die wechselbaren Tastspitzen des Koppelnetzwerks P250 ermöglichen das Einkoppeln von Impulsen über verschiedene Kapazitäten.
Das im Lieferumfang enthaltene Verbindungskabel endet auf Fischer-Stecker. Alternativ kann das Verbindungskabel auch anstelle des Fischer-Steckers mit einem SHV-Stecker bestellt werden.
Lieferumfang
- 1x P250, EFT Koppelnetzwerk
- 1x TS 250-2.2p, Tastspitze 2,2 pF
- 1x TS 250-10p, Tastspitze 10 pF
- 1x TS 250-1n, Tastspitze 1 n
- 1x TS 250-100p, Tastspitze 100 pF
- 1x TS 250-100n, Tastspitze 100 nF
- 1x HV FI-FI 1 m, Hochspannungskabel Fischer-Fischer
- 1x P250 case, Systemkoffer
- 1x P250 m, Benutzerhandbuch P250 Set
Empfohlene Produkte
Lieferumfang Details
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P250
EFT Koppelnetzwerk
Das EFT Koppelnetzwerk P250 dient zur Einkopplung von Burstpulsen nach IEC 62215-3 in ICs. Die P250 wird an einen EFT / Burstgenerator (IEC 61000-4-4) angeschlossen. Mit den austauschbaren Tastspitzen kann der zu prüfende IC-Pin über verschiedene Koppelkapazitäten mit dem Störpuls beaufschlagt werden.
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TS 250-2.2p
Tastspitze 2,2 pF
Die Tastspitze TS 250-2.2p ist eine austauschbare Koppelkapazität für die EFT Einkoppelprobe P250 und ermöglicht eine hohe Flexibilität bei der Störeinkopplung in IC-Pins. Die Tastspitze wird in die vordere Öffnung der Probe P250 gesteckt.
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TS 250-10p
Tastspitze 10 pF
Die Tastspitze TS 250-10p ist eine austauschbare Koppelkapazität für die EFT Einkoppelprobe P250 und ermöglicht eine hohe Flexibilität bei der Störeinkopplung in IC-Pins. Die Tastspitze wird in die vordere Öffnung der Probe P250 gesteckt.
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TS 250-1n
Tastspitze 1 n
Die Tastspitze TS 250-1n ist eine austauschbare Koppelkapazität für die EFT Einkoppelprobe P250 und ermöglicht eine hohe Flexibilität bei der Störeinkopplung in IC-Pins. Die Tastspitze wird in die vordere Öffnung der Probe P250 gesteckt.
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TS 250-100p
Tastspitze 100 pF
Die Tastspitze TS 250-100p ist eine austauschbare Koppelkapazität für die EFT Einkoppelprobe P250 und ermöglicht eine hohe Flexibilität bei der Störeinkopplung in IC-Pins. Die Tastspitze wird in die vordere Öffnung der Probe P250 gesteckt.
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TS 250-100n
Tastspitze 100 nF
Die Tastspitze TS 250-100n ist eine austauschbare Koppelkapazität für die EFT Einkoppelprobe P250 und ermöglicht eine hohe Flexibilität bei der Störeinkopplung in IC-Pins. Die Tastspitze wird in die vordere Öffnung der Probe P250 gesteckt.