Einleitung

Für die Fehlerinjektion in kryptografische Schaltkreise bzw. Protokolle bietet die Langer EMV‑Technik GmbH seit einigen Jahren die ICI‑Serie an. Diese ist mit der ICI‑DP Serie erweitert worden. Neben einer stärkeren Störwirkung bietet das neue System nun auch die Möglichkeit, zwei Störpulse kurz nacheinander generieren zu können.

Probespitzen

Neben den verbesserten Störparametern bietet Langer EMV‑Technik nun auch verschiedene Probespitzen an. Zur Auswahl stehen Spitzendurchmesser von 1000 μm, 500 μm, 250 μm und sogar 150 μm. Während die beiden größeren Spulen (500 μm & 1000 μm) eher für Angriffe auf geschlossene Schaltkreise ausgelegt sind, erlauben insbesondere die beiden kleinen Störspulen (250 μm & 150 μm) eine örtlich sehr präzise Störung offener Schaltkreise.

Spitzentypen

Abgerundet wird das Angebot durch unterschiedliche Spitzentypen, d. h. mit welchen Abmessungen die Probespitze zum Gehäuse angebracht ist. Während der Standard‑Spitzentyp (Tip Type 01) nah am Gehäuse liegt, bietet der Spitzentyp 02 (Tip Type 02) mehr Platz sowohl seitlich als auch nach unten. Spitzentyp 03 (Tip Type 03) richtet sich an Anwender, die besonders viel Platz nach unten benötigen. Weitere kundenspezifische Spitzentypen können auf Anfrage ebenfalls bereitgestellt werden. Ebenso können die Spitzentypen auch für die ICI‑Serie geordert werden.