Übersicht IC Test System
IC Test System
Mit dem IC-Testsystem wird das Verhalten von Schaltkreisen bei gezielter Störgrößeneinwirkung
(feld- und leitungsgebunden) bzw. deren Störaussendung untersucht. Der Test-IC wird in Funktion getestet.
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IC Testumgebung
Mit der IC Testumgebung können Sie EMV-Parameter von IC bestimmen und die EMV-Festigkeit von ICs beurteilen.
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Störaussendung
Die IC Probes für die Störaussendung ermöglichen Ihnen die leitungsgebundene HF-Messung und die Messung der HF-Feldauskopplung.
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Störfestigkeit
Zur leitungs- und feldgebundenen Messung der Störfestigkeit eines ICs stehen Messysteme zur Einkopplung von Burst, EFT, ESD und HF zur Verfügung.
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Simulation
Die Simulationsmodelle unserer Probes helfen Ihnen EMV Messung und Simulation zu verstehen und vereinen.