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  10 P512 und DPI

  Dieser Artikel beschreibt die Entwicklung der HF-Probe P512, die hochfrequente Signale bis zu 12 GHz direkt in IC-Pins einkoppeln kann. Die P512 ermöglicht präzisere Störanfälligkeitsprüfungen moderner ICs und vereinfacht das Testen durch flexible Kontaktierung sowie eine integrierte Koppelkapazität von 6,8 nF.

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  09 Surface Scan on IC Level with high Resolution

  This article focuses on measurements with E-field and H-field microprobes.

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  08 ESD und effizientes elektronisches Design

  Dieser Artikel konzentriert sich auf die Auswirkungen des IC-Verhaltens auf das elektronische Design, insbesondere auf die Eigenschaften der elektrostatischen Entladung und beschreibt die Beeinflussung des IC auf das Gerät.

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  07 EMV-Messtechnik zur Prüfung integrierter Schaltungen - Eine Einführung

  Anwendung der IC-Messtechnik der Langer EMV-Technik GmbH zur entwicklungsbegleitenden Prüfung der elektromagnetischen Verträglichkeit von integrierten Schaltungen und Zuordnung der Messsysteme zu den entsprechenden Normen.

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  06 Messung der Schirmdämpfung auf IC-Ebene mit dem IC-Testsystem P1402/P1502

  Messung der Störfestigkeit und Schirmwirkung getrennt für elektrisches und magnetisches Feld

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  05 Zeit- und Kostenersparnis bei der Aufnahme und Dokumentation von HF-Messungen mit Spektrumanalysatoren

  Software sichert und dokumentiert zahlreiche EMV Messungen

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  04 Strahlungsgebundene Störaussendung von PCB-Ebene - Eine Einführung

  Störquellen mit Nahfeldsonden auf der Baugruppe identifizieren

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  03 Entstörung eines mit PWM betriebenen Gleichstrommotors

  Störaussendungsmessungen mit Netznachbildung NNB 21 oder HF-Stromwandler HFW 21 und der Software für Spektrumanalysatoren ChipScan-ESA der Langer EMV-Technik

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  02 XF Nahfeldsonden und LVDS Entstörung

  Entstörung von LVDS-Verbindungen mit Nahfeldsonden

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  01 MFA Mikrosonden und LVDS Entstörung

  MFA und ChipScan-ESA zum Messen von Störaussendung der Gleichtaktströme