Analog
Die LWL-Tastköpfe dienen zur Übertragung von analogen Signalen aus dem Prüfling unter EFT/Burst-Störeinfluss.
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A100-1 set
Tastkopf 1-kanalig, 25 kHz
Das A100-1 Set dient zum Oszillographieren von analogen Signalen unter EFT/ESD/HF-Störeinfluss. Besonders eignet sich das Messsystem zur Untersuchung von analogen Signalen während der Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) gegen hochfrequente elektrom…
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A100-2 set
Tastkopf 2-kanalig, 25 kHz
Das A100-2 Set dient zum Oszillographieren von analogen Signalen unter EFT/ESD/HF-Störeinfluss. Besonders eignet sich das Messsystem zur Untersuchung von analogen Signalen während der Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) gegen hochfrequente elektrom…
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A200-1 set
Tastkopf 1-kanalig, 500 kHz
Das A200-1 Set enthält einen Sensor mit dem das Oszillographieren von analogen Signalen unter EFT/ESD/HF-Störeinfluss potentialfrei möglich ist. Gestörte Signale lassen sich schnell erkennen. Der Sensor wandelt im Prüfling gemessene Analogsignale in Lichtsignale um. Die Lichtsignale werden über LWL …
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A200-2 set
Tastkopf 2-kanalig, 500 kHz
Das A200-2 Set enthält 2 Sensoren mit denen das Oszillographieren von analogen Signalen unter EFT/ESD/HF-Störeinfluss potentialfrei möglich ist. Damit lassen sich gestörte Signale schnell erkennen. Ein Sensor wandelt im Prüfling gemessene Logiksignale in Lichtsignale um. Die Lichtsignale werden über…
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A300-1 set
Tastkopf 1-kanalig, 5 MHz
Das A300-1 Set enthält einen Sensor mit dem das Oszillographieren von analogen Signalen unter EFT/ESD/HF-Störeinfluss potentialfrei möglich ist. Gestörte Signale lassen sich schnell erkennen. Der Sensor wandelt im Prüfling gemessene Analogsignale in Lichtsignale um. Die Lichtsignale werden über LWL …
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A300-2 set
Tastkopf 2-kanalig, 5 MHz
Das A300-2 Set enthält 2 Sensoren mit denen das Oszillographieren von analogen Signalen unter EFT/ESD/HF-Störeinfluss potentialfrei möglich ist. Damit lassen sich gestörte Signale schnell erkennen. Ein Sensor wandelt im Prüfling gemessene Logiksignale in Lichtsignale um. Die Lichtsignale werden über…