ICS 105 set
IC-Scanner 4-Achsen-Positioniersystem
Kurzbeschreibung
Das IC-Scanner ICS 105 Set ermöglicht Messungen von hochfrequenten Nahfeldern über integrierten Schaltkreisen. Je nach verwendeter ICR-Mikronahfeldsonde kann Magnetfeld oder elektrisches Feld von 50 - 100 µm detektiert werden.
Zur genauen Bestimmung der Richtung des magnetischen Feldes kann die Sonde zusätzlich automatisch gedreht werden.
Optional kann der IC-Scanner auch mit dem Universalhalter UH-DUT und der Sondenhalterung SH 01 für Messungen über kleinen Baugruppen eingesetzt werden.
Mit wenigen Handgriffen kann der IC-Scanner für ESD-/EFT-Störfestigkeitsuntersuchungen von integrierten Schaltkreisen vorbereitet werden.
Lieferumfang
- 1x ICS 105, 4-Achsen-Positioniersystem
- 1x CS-Scanner, Software ChipScan-Scanner / USB
- 1x GND 25, Groundplane
- 1x DM-CAM, Digitale Mikroskopkamera
- 1x ICS Flight case, Flugkiste für ICS
- 1x ICS 105 m, Benutzerhandbuch ICS 105
Lieferumfang Details
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ICS 105
4-Achsen-Positioniersystem
Der IC-Scanner ICS 105 ist ein 4-Achsen Positioniersystem zum Bewegen von Nahfeldsonden in drei linearen Achsen und zum Drehen der Nahfeldsonden über einem IC in einer elektronischen Baugruppe. Der Scanner ist geeignet für ICI- Injektionprobes, ICR-Nahfeldmikrosonden und alle anderen Nahfeldsonden …
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CS-Scanner
Software ChipScan-Scanner / USB
Die Software ChipScan-Scanner dient der automatisierten Messung von elektrischen und magnetischen Nahfeldern elektronischer Baugruppen. Die Software ermöglicht Messungen in einer Ebene oder im Volumen oberhalb der Baugruppe, die Visualisierung der Messergebnisse für eine schnelle und genaue Bewertun…
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GND 25
Groundplane
Die Groundplane GND 25 gewährleistet die HF-gerechte Kontaktierung der Probes während einer EMV-Messung an einem Test-IC. Sie besteht aus Stahl mit vergoldeter Oberfläche. Die Aussparung (103 x 103) mm ist vorgesehen für die Aufnahme: - der Groundadapter (GNDA 01-04) oder - eines TEM-Zellen prints (…
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DM-CAM
Digitale Mikroskopkamera
Die digitale Mikroskopkamera ist Bestandteil der Langer-Scanner und erleichtert die Positionierung der Probes über dem DUT.