H3 set
Feldquellen
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Anwendung mit der Magnetfeldquelle BS 04DB-h -
Anwendung mit der E-Feldquelle ES 01-h -
Lieferumfang H3 set
Kurzbeschreibung
Die Feldquellen dienen der Störfestigkeitsanalyse von Baugruppen und Geräten. Sie koppeln Pulsfelder (IEC 61000-4-4) in den Prüfling ein. Zur Analyse werden sie von Hand dicht über den Prüfling geführt. Dabei reagiert die Schwachstelle auf das Pulsfeld und Funktionsfehler werden ausgelöst.
Ein EFT/Burst Generator speist die Feldquellen über ein Hochspannungskabel.
Die Feldquellen besitzen einen SMB-Ausgang.
Das Anschlusskabel für die Feldquellen ist mit SHV-Stecker (HV SHV-SMB 1 m) oder mit Fischer-Stecker (HV FI-SMB 1 m; Fischer-Stecker S103A023) erhältlich. Bitte bei Bestellung angeben.
Es werden verschiedene Arten von Feldquellenköpfen für unterschiedliche Meßaufgaben angeboten. Diese ermöglichen ein millimetergenaues Eingrenzen von Schwachstellen oder auch das Aufsuchen kritischer Verbindungen und Anschlüsse wie Bauelemente, Leiterzüge oder IC-Pins auf den festgelegten Störpfad.
Lieferumfang
- 1x BS 02-h, Magnetfeldquelle
- 1x BS 04DB-h, Magnetfeldquelle
- 1x BS 05DB-h, Magnetfeldquelle
- 1x BS 05DU-h, Magnetfeldquelle
- 1x ES 00-h, E-Feldquelle
- 1x ES 01-h, E-Feldquelle
- 1x ES 02-h, E-Feldquelle
- 1x ES 05D-h, E-Feldquelle
- 1x ES 08D-h, E-Feldquelle
- 1x HV SHV-SMB 1 m, Hochspannungskabel SHV SMB
- 1x H case, Systemkoffer
- 1x H3 m, Bedienungsanleitung H3 Set
Empfohlene Produkte
Lieferumfang Details
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BS 02-h
Magnetfeldquelle
Die BS 02-h dient der Lokalisierung von Schwachstellen im Layout. Sie erzeugt ein B-Feld von ca. 5 cm Durchmesser. Sie eignet sich zur großflächigen Beaufschlagung von Gehäuseoberflächen und Innenbereichen, Verbindungstechnik und Baugruppen mit Leiterzugstrukturen und ICs zur Erkennung von magnetisc…
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BS 04DB-h
Magnetfeldquelle
Die Magnetfeldquelle BS 04DB-h generiert ein B-Feld im Millimeterbereich (ca. 3 mm). Mit dem an der Stirnseite austretenden Feld wird die Oberfläche von Leiterkarten abgetastet. Dies gestattet das Auflösen von magnetischen Schwachstellen im Layout und Bestückungsbereich. Kritische Leiterzugabschnitt…
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BS 05DB-h
Magnetfeldquelle
Die Magnetfeldquelle BS 05DB-h erzeugt einen feinen aus der Spitze des Feldquellenkopfes austretenden B-Feld (ca. 1 mm) und ist damit für die Lokalisierung punktförmiger Schwachstellen geeignet. Mit dem Feld wird die Oberfläche von Leiterkarten und Bauteilen abgetastet. Aus dem kleinen Durchmesser d…
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BS 05DU-h
Magnetfeldquelle
Die BS 05DU-h erzeugt an ihrer Spitze ein kleinräumiges Magnetfeld von wenigen Millimetern. Sie arbeitet nach dem Prinzip einer Koppelzange und wird zur selektiven Einkopplung von Störstrom in einzelne Leiterzüge, IC-Pins, Bauelemente und dünnen Kabeln (Flachbandkabel) eingesetzt.
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ES 00-h
E-Feldquelle
Mit der ES 00-h können großflächig E-Feld sensible Schwachstellen aufgespürt werden. Oft erstrecken diese sich flächenhaft auf der Baugruppe über 10 bis 15 cm (LCD-Display, Bussysteme). Die ES 00-h kann auch zur Einkopplung von Störstrom in z.B. die Kabel einer Baugruppe verwendet werden.
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ES 01-h
E-Feldquelle
Mit der E-Feldquelle ES 01-h sind großflächige elektrische Einkopplungen möglich. Die Feldquelle eignet sich zum Beaufschlagen von Schwachstellen im Bereich von 5 bis 10 cm Ausdehnung und ordnet sich zwischen die Feldquellen ES 02-h und ES 00-h ein.
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ES 02-h
E-Feldquelle
Die Fläche des Feldquellenkopfes ermöglicht das großflächige Einkoppeln in Gehäuseoberflächen, Verbindungstechnik, Leiterzugstrukturen und ICs (z.B. Bussysteme, LCD-Displays). Auch kann sie mit ihrer Spitze zum Lokalisieren kleinerer E-Feld sensibler Strukturen verwendet werden (Leiterzüge, Quarze, …
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ES 05D-h
E-Feldquelle
Die E-Feldquelle ES 05D-h besitzt eine schmale Auskoppelelektrode im Feldquellenkopf. Sie ist deshalb zum Aufsetzen auf Leiterzügen, kleinen Bauteilen und deren Anschlüsse, Drähten und einzelnen Bauelementen geeignet. Einzelne Steckerkontakte oder Adern von Flachbandkabeln lassen sich ebenfalls untersuchen.
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ES 08D-h
E-Feldquelle
Die E-Feldquelle ES 08D-h ist eine Prüfspitze zur Bestimmung der Empfindlichkeit eines IC-Pins oder einer Leitung. Zur Messung wird sie mit dem Pin/Leiterzug kontaktiert und durch Änderung der Intensität der Störimpulse am EFT/Burstgenerator die Empfindlichkeit ermittelt. Innerhalb der Feldquelle w…