BS 02-h磁场场源主要用于电路布局中的薄弱点定位。 它产生一个覆盖直径大约为5厘米的磁场束，能够较大面积地作用于电路外壳表面及其内部区域、连接部分、有导线的模块以及集成电路等区域，从而进行对磁场敏感薄弱点的识别和定位。

BS 04DB-h型磁场源产生直径大约为3mm的磁场。借助其正面发出的磁场可以对印刷电路板的表面进行采样，这样就能消除电路布局和装配区域内的磁薄弱点。还可以定位关键的导体段，关键的组件和这些组件的连接。

BS 05DB-h型磁场源从其探头的尖端发出直径大约为1mm微小磁场，因此适用于定位点状的薄弱点。借助其发出的微小磁场可以对印刷电路板和组件的表面进行采样。因其探头的微小直径和生成磁场的准确绑定而具有较高的分辨率。

BS 05DU-h 型磁场源在其尖端产生直径大约为几毫米的微小磁场。它的工作原理如同耦合钳，能够将干扰电流有选择地耦合到单个导体、IC引脚、组件以及细线（扁平带状线缆）。

借助ES 00-h型电场源可以大范围地定位电场敏感点。通常这些敏感区在组件（例如LCD显示器及总线系统）上会达到1~15cm。ES 00-h型电场源也可用于耦合例如组件电缆中的干扰电流。

借助ES 01-h 型电场源可以实现大范围内的电耦合。这种场源适合于向5到10厘米范围内的薄弱点施加电场干扰。它介于ES 00-h型和ES 02-h型电场源之间。

该场源面积较大，能够大范围地向机箱表面，连接件，带导体结构的模块以及集成电路（如总线系统，液晶显示器）等施加耦合干扰电场。该场源的尖端部位，也可用于定位对电场敏感的较小结构（导线，晶振，上拉电阻，IC等）。

ES 05D-h型电场源的探头内有一个狭窄的去耦合电极。因此适合于想导线、小型元件机器连接器、线缆及单个的元件施加电场。它还可以用于测量那些单个的插接件或扁平带状电缆的芯线。

ES 08D-h 型电场源是一个探针，用于检查集成电路引脚或者布线等的敏感度。检测时，探头的尖端连接到引脚或布线，通过改变EFT或爆冲发生器的干扰脉冲强度检测引脚的灵敏度。在场源内部，干扰脉冲电容式地耦合到探针，因此不会影响到有效信号。