干扰发射
The IC probes for emission allow for conducted RF measurements and measurements of RF field emission.
-
P603-1 / P750 set
基于IEC61967-4标准的传导发射测量
该探头套组用于测量IC引脚的传导发射(采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量)。它基于IEC61967-4标准,分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。 该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。 使用朗格尔电磁兼容技术公司的ICE1集成电路IC测试环境,可以对待测集成电路进行测试。芯片扫描ChipScan-ESA 软件系统可以控制测量过程,并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。
-
P603 / P750 set
-
P1601 / P1702 set
-
P1602 / P1702 set