• Kontakt
  • Karriere
  • AGB
  • Zahlungsformular
  • DE
  • EN
  • CN

Black cat logo Langer EMV-Technik

  • Über uns
    • Firma
      • Karriere
      • AGB
      • Firmenprofil
      • Meilensteine
    • Distributoren
      • Asien
      • Europa
      • Nord Amerika
    • Kontakt
    • Anfahrt
    • Förderungen
    • Veranstaltungen
    • Zahlungsformular
  • Produkte
    • PCB-Störfestigkeit
      • Entwicklungssystem Störfestigkeit
      • Mini - Burstfeldgeneratoren
      • Zubehör EFT/Burst Generatoren IEC 61000-4-4
      • Optische Signalübertragung
      • Burstdetektor
    • PCB-Störaussendung
      • Entwicklungsbegleitende Messtechnik
      • Nahfeldsonden
      • Vorverstärker
      • Nahfeldmikrosonden
      • Optische Signalübertragung
    • IC Test System
      • IC Testumgebung
      • Störaussendung
      • Störfestigkeit
      • Simulation
    • IC Sicherheit
      • Fault Injection
      • Seitenkanalanalyse
      • Positioniersysteme
    • Positioniersysteme
      • Langer Scanner
      • Zubehör für Langer Scanner
      • Nahfeld-Scannersonden
    • Software
      • CS-Scanner, Software ChipScan-Scanner / USB
      • CS-ESA set, Software ChipScan-ESA / USB
    • Mess- und Kalibrierplätze
      • PCB
      • IC
      • Steckverbinder
    • Messtechnik für Lehre und Ausbildung
      • EMC-Basic 1 set, Demonstrationsboards Mini-Burstfeldgeneratoren
      • EMC-Basic 2 set, Demonstrationsboards Nahfeldsonden
      • DB 20 set, Demo Board 20
      • D10 set, EMV Demonstrationselektronik
  • Seminare
    • SF-GE, EMV Experimentalseminar Störfestigkeit Grundlagen & Entstörung (3 Tage)
    • SF-G, EMV Experimentalseminar Störfestigkeit - Grundlagen (2 Tage)
    • SA-GE, EMV Experimentalseminar Störaussendung Grundlagen & Entstörung (3 Tage)
    • SA-G, EMV Experimentalseminar Störaussendung - Grundlagen (2 Tage)
    • SF IHS, EMV Inhouseseminar Störfestigkeit 3 Tage
    • SA IHS, EMV Inhouseseminar Störaussendung 2 Tage
    • Terminübersicht
  • Dienstleistungen
    • EMV Workshops
      • WS ESA1, Workshop Entwicklungssystem Störaussendung
      • WS IC, Workshop EMV für integrierte Schaltkreise
      • WS PCB, Workshop Entwicklungsbegleitende EMV Störaussendung und Störfestigkeit
      • WS Scanner, Workshop zu Langer Scannern
    • IC-EMV Analyse
      • Störaussendung
      • Störfestigkeit
    • EMV Analyse
      • SMM Langer, Messung der elektromagnetischen Abschirmung nach dem Langer-Verfahren
      • COCI, Messung der Koppelinduktivität von Steckverbindern und Kabeln
    • EMV-B, EMV-Beratung und Elektronikentstörung
  • EMV-Wissen
    • Fachartikel Board-EMV
      • Basiswissen
      • Störfestigkeit
      • Störaussendung
    • Fachartikel IC-EMV
      • Basiswissen
      • Störfestigkeit
      • Störaussendung
    • Langer EMV-Technik in der wissenschaftlichen Forschung
    • Newsletter
      • 17 ESA1 set
      • 16 ICI-DP sets
      • 15 Schirmzelt und GP 23 set
      • 14 Mini-Burstfeldgeneratoren im Westentaschenformat
      • 13 Störfestigkeit EMV Schwachstellensuche:
      • 12 ICR: Nahfeldanalyse im Mikrometerbereich und ihre Vorteile
      • 11 ChipScan-ESA unterstützt nun mehr Messgeräte
      • 10 P512 und DPI
      • 09 Surface Scan on IC Level with high Resolution
      • 08 ESD und effizientes elektronisches Design
      • 07 EMV-Messtechnik zur Prüfung integrierter Schaltungen - Eine Einführung
      • 06 Messung der Schirmdämpfung auf IC-Ebene mit dem IC-Testsystem P1402/P1502
      • 05 Zeit- und Kostenersparnis bei der Aufnahme und Dokumentation von HF-Messungen mit Spektrumanalysatoren
      • 04 Strahlungsgebundene Störaussendung von PCB-Ebene - Eine Einführung
      • 03 Entstörung eines mit PWM betriebenen Gleichstrommotors
      • 02 XF Nahfeldsonden und LVDS Entstörung
      • 01 MFA Mikrosonden und LVDS Entstörung
    • Videos
      • Produktanwendung
      • EMV Webinar
  • PCB-Störfestigkeit
  • PCB-Störaussendung
    • Entwicklungsbegleitende Messtechnik
    • Nahfeldsonden
    • Vorverstärker
      • PA 2522 setVorverstärker 10 MHz bis 22 GHz
      • PA 3010 setVorverstärker 10 MHz bis 10 GHz
      • PA 306 SMA setVorverstärker 100 kHz bis 6 GHz
      • PA 303 N setVorverstärker 100 kHz bis 3 GHz
      • PA 303 SMA setVorverstärker 100 kHz bis 3 GHz
      • PA 303 BNC setVorverstärker 100 kHz bis 3 GHz
      • PA 203 SMA setVorverstärker 100 kHz bis 3 GHz
      • PA 203 BNC setVorverstärker 100 kHz bis 3 GHz
    • Nahfeldmikrosonden
    • Optische Signalübertragung
  • IC Test System
  • IC Sicherheit
  • Positioniersysteme
  • Software
  • Mess- und Kalibrierplätze
  • Messtechnik für Lehre und Ausbildung
  • Produkte
  • PCB-Störaussendung
  • Vorverstärker
  • PA 203 SMA set, Vorverstärker 100 kHz bis 3 GHz
  • PA 203 SMA, Vorverstärker 100 kHz bis 3 GHz

PA 203 SMA

Vorverstärker 100 kHz bis 3 GHz

  • Kurzbeschreibung
  • Technische Parameter
Anfrage senden Datenblatt
  • PA 203 SMA, Vorverstärker 100 kHz bis 3 GHz
PA 203 SMA, Vorverstärker 100 kHz bis 3 GHz
Kurzbeschreibung

Der PA 203 dient zur Verstärkung von Messsignalen z.B. schwachen Signalen von hoch auflösenden Nahfeldsonden. Ein- und Ausgang des PA 203 sind entweder als 50 Ω BNC (PA 203 BNC)- oder SMA-Steckverbinder (PA 203 SMA) ausgeführt.

Der PA 203 wird an den 50 Ω-Eingang eines Spektrumanalysators oder Oszilloskops angeschlossen. Die Versorgung des PA 203 erfolgt über das Steckernetzteil. Die Nahfeldsonde wird mit dem entsprechenden Kabel an den Eingang des Vorverstärkers angeschlossen.

Technische Parameter
Frequenzbereich 100 kHz - 3 GHz
Verstärkung 20 dB
-1dB Kompressionspunkt (Ausgang) 0 dBm
Rauschmaß 4.5 dB
Versorgung 12 V DC
Stromaufnahme 50 mA
Max. Eingangsleistung +13 dBm
Gewicht 35 g
Maße (L x B x H) (50 x 38 x 13) mm
Frequenzgang Frequenzgang Frequenzgang
Frequenzgang (Detail) Frequenzgang (Detail) Frequenzgang (Detail)
  • © Langer EMV-Technik
  • Kontakt
  • Impressum
  • Datenschutzerklärung
  • Förderungen
  • facebook
  • YouTube
  • Linked-In
  • Twitter
Europäischer Fonds für regionale Entwicklung EFRE - Europäischer Sozialfonds ESF