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Messtrategien
E1 set
Entwicklungssystem Störfestigkeit
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Lokalisierung von Störfestigkeitsschwachstellen mit der Magnetfeldquelle BS 04 DB. Mit dem optischen Tastkopf S21 wird ein kritisches Signal des Prüflings über Lichtwellenleiter überwacht. -
Lieferumfang E1 -
Explosionszeichnung E1 -
Anwendung mit Magnetfeldsonde MSA 02 aus dem Set S2
Kurzbeschreibung
Das E1 ist ein System von EMV-Werkzeugen zur entwicklungsbegleitenden Entstörung von Baugruppen und Geräten. Es dient dem exakten und schnellen Auffinden von Ursachen (Schwachstellen) für Burst- als auch ESD-Störungen. Der Entwickler hat mit dem E1 die Möglichkeit, EMV-Maßnahmen genau zur Schwachstelle passend auszuwählen und zu dimensionieren. EMV-Maßnahmen können mit dem E1 in ihrer Wirkung geprüft werden. Der Prüfaufbau mit dem E1 ist klein und passt auf den Arbeitsplatz des Elektronikentwicklers.
Im Benutzerhandbuch E1 sind EMV-Wirkmechanismen und grundlegende Messstrategien zur Entstörung von Flachbaugruppen ausführlich beschrieben. Im Set E1 ist ein Generator zur Erzeugung von Burst- und ESD-Störungen enthalten.
Lieferumfang
- 1x SGZ 21, Burstgenerator
- 1x S21, Optischer Sensor (10 Mbps)
- 1x BS 02, Magnetfeldquelle
- 1x BS 04DB, Magnetfeldquelle
- 1x BS 05D, Magnetfeldquelle
- 1x BS 05DU, Magnetfeldquelle
- 1x ES 00, E-Feldquelle
- 1x ES 01, E-Feldquelle
- 1x ES 02, E-Feldquelle
- 1x ES 05D, E-Feldquelle
- 1x ES 08D, E-Feldquelle
- 1x MS 02, Magnetfeldsonde
- 1x E1 acc, Zubehör
- 1x NT FRI EU, Steckernetzteil
- 1x E1 case, Systemkoffer
- 1x E1 m, Benutzerhandbuch E1 Set
Empfohlene Produkte
Technische Parameter
| Optischer Sensor S21 | |
| Übertragungsbereich | DC...10 Mbps |
| LWL-Anschluss | 2.2 mm Ø |
| Versorgungsspannung | (3-5) V |
| Stromaufnahme | 10 mA |
| Burstgenerator SGZ 21 | |
| Pulsparameter | |
| Anstiegszeit | ca. 2 ns |
| Rückenzeit | ca. 10 ns |
| Scheitelwerte | ca. 0...1500 V |
| Optischer Eingang | |
| Lichtwellenleiter | 2.2 mm |
| Max. Frequenz | 5 MHz |
| Min. Impulsbreite | 100 ns |
| Versorgungsspannung | 12 V / 200 mA |
| Maße (L x B x H) | (154 x 100 x 62) mm |
| Messprinzip |
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Lieferumfang Details
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SGZ 21
Burstgenerator
Der Burstgenerator SGZ 21 erzeugt potentialfreie, pulsförmige Störgrößen. Seine Ausgänge sind symmetrisch und galvanisch getrennt. Mit dem SGZ 21 kann partiell in Konstruktionsteile, Kabel, Schirmungen, Erdverbindungen; direkt in Baugruppen oder indirekt über Feldquellen in einen Prüfling eingekoppe…
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S21
Optischer Sensor (10 Mbps)
Der Sensor S21 ist ein digitaler Tastkopf zur rückwirkungsfreien Übertragung von digitalen Signalen aus dem Prüfling während Burst- oder ESD-Prüfungen. Er wird direkt auf einer Leiterkarte des Prüflings befestigt und vom Prüfling versorgt. Das digitale Signal wird im Sensor in ein optisches Signal g…
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BS 02
Magnetfeldquelle
Die Magnetfeldquelle BS 02 dient der Lokalisierung von Schwachstellen im Layout. Sie erzeugt ein B-Feld von ca. 5 cm Durchmesser. Sie eignet sich zur großflächigen Beaufschlagung von Gehäuseoberflächen und Innenbereichen, Verbindungstechnik und Baugruppen mit Leiterzugstrukturen und ICs zur Erkennun…
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BS 04DB
Magnetfeldquelle
BS 04DB generiert ein B-Feld im Millimeterbereich und dient besonders zur Lokalisierung von kritischen Leiterzugabschnitten, Bauteilen und Bauteilanschlüssen. Das aus dem Kopf der Feldquelle austretende Feld wird über die Oberfläche des Prüflings geführt.
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BS 05D
Magnetfeldquelle
Die BS 05D erzeugt ein B-Feld von > 3 mm Durchmesser. Die Feldlinien verlaufen 90° zum Feldquellenschaft. Damit eignet sich die Feldquelle besonders zur Lokalisierung von Schwachstellen zwischen zwei Flachbaugruppen und in schwer zugänglichen Bereichen von Baugruppen z. B. zwischen Bauteilen. Vor An…
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BS 05DU
Magnetfeldquelle
Die BS 05DU erzeugt ein Magnetfeld im Millimeterbereich. Sie arbeitet nach dem Prinzip einer Koppelzange und wird zur selektiven Einkopplung von Störstrom in einzelne Leiterzüge, IC-Pins, SMD-Bauelemente und dünne Leitungen (Flachbandkabel) eingesetzt.
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ES 00
E-Feldquelle
Mit der ES 00 sind großflächige (150 cm²) oder mit der Kante des Feldquellenkopfes auch linienförmige elektrische Einkopplungen möglich. E-Feld sensible Schwachstellen erstrecken sich oftmals flächenhaft über 10 bis 15 cm (LCD-Display, Bussysteme). Großflächige Feldquellen wie die ES 00 spüren derar…
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ES 01
E-Feldquelle
Die Feldquelle eignet sich zum Beaufschlagen von flächen- oder linienförmigen Schwachstellen im Bereich von 5 bis 10 cm Ausdehnung und ordnet sich zwischen die Feldquelle ES 02 und ES 00 ein. Die ES 01 eignet sich auch zur Einkopplung von Störstrom in die Baugruppe.
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ES 02
E-Feldquelle
Die Fläche des Feldquellenkopfes ermöglicht das großflächige Einkoppeln in Gehäuseoberflächen und Innenbereiche, Verbindungstechnik und Baugruppen mit Leiterzugstrukturen und ICs (z.B. Bussysteme, LCD-Displays). Des Weiteren kann sie mit ihrer Spitze zum Lokalisieren E-Feld-sensibler kleiner Schwach…
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ES 05D
E-Feldquelle
Die E-Feldquelle besitzt eine schmale linienförmige Auskoppelelektrode im Feldquellenkopf. Sie ist deshalb zum Aufsetzen auf Leiterzüge und kleine Bauteile und deren Anschlüsse, Drähte und einzelne SMD-Bauelemente wie Widerstände und Kondensatoren geeignet. Einzelne Steckerkontakte oder Adern von Fl…
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ES 08D
E-Feldquelle
Die E-Feldquelle ES 08D ist eine Tastspitze zur Bestimmung der Empfindlichkeit eines IC-Pins oder einer Leitung. Zur Prüfung wird die Tastspitze mit dem Pin/Leiterzug kontaktiert und durch Änderung der Intensität der Burstimpulse am SGZ 21 die Empfindlichkeit des Pins ermittelt.
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MS 02
Magnetfeldsonde
Die Magnetfeldsonde dient zum Messen von Burst-Magnetfeldern im Prüfling. Damit können die Wege des Störstromes ermittelt werden. Sie wird mit dem SGZ 21 angewendet.
Messtrategien