Überblick

Stellen Sie sich vor, Ihr produktionsbereites elektronisches Gerät ist gerade an einem ESD-Test gescheitert. Wäre es nicht viel besser, dieses Problem viel früher während des Entwicklungsprozesses zu entdecken und zu beheben?

In diesem Webinar besprechen wir die Auswirkungen des Verhaltens von ICs bei der elektronischen Entwicklung und gehen gezielt auf die ESD-Eigenschaften ein und wie diese durch die Beeinflussung einzelner ICs ein gesamtes Gerät beeinflussen.
Um ESD-Probleme zu erkennen, muss ein spezieller Testaufbau genutzt werden, mit welchem die Störungen auf IC-Ebene rekonstruiert werden können, welche während des Entwicklungsprozesses auftreten. Dieser Vorgang erspart dem Ingenieur Entwicklungszeit und -aufwand.
Wir erklären ausgewählte ESD-Probleme und ergänzen diese durch praktische Beispiele sowohl auf elektronischer Ebene als auch auf IC-Ebene.

Wer sollte daran teilnehmen?

Entwickler, Konstrukteure, Ingenieure, Testingenieure