IC-Sicherheit
Diese Sonden ermöglichen Ihnen das Einkoppeln von schnellen, transienten Magnetfeld, E-Feld und Strom-Pulse in ICs.
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ICI HH500-15 L-EFT
Puls-Magnetfeldquelle
Die ICI HH500-15 L-EFT Puls-Magnetfeldquelle koppelt schnelle transiente Pulse in Test-ICs (open die) ein. Mit dieser Feldquelle lassen sich electromagnetic fault injection (EMFI) Attacken durchführen. Zusätzlich kann die Störfestigkeit einzelner Bereiche des Test-ICs untersucht werden.
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ICI E450 L-EFT
Puls-E-Feldquelle
Die elektrische Impulsfeldquelle ICI E450 L-EFT koppelt schnelle Einschwingimpulse in einen Test-IC (offener Chip). Dies ermöglicht eine Fehlerinduktion (fault injection) oder das Testen der Immunität einzelner Bereiche des IC.
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ICI I900 L-EFT
Puls-Stromquelle (FBBI)
Die ICI I900 L-EFT Puls-Stromquelle koppelt über eine Federkontaktspitze schnelle transiente Pulse in Test-ICs (Forward Body Biased Injection) ein. Mit dieser Feldquelle lassen sich Fehler induzieren (fault injection). Zusätzlich kann die Störfestigkeit einzelner Bereiche des Test-ICs untersucht werden.