Anwendungsvideo

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Zusammenfassung des Videos

Das Leben als integrierter Schaltkreis ist hart: elektrische und magnetische Störfelder von benachbarten Bauteilen und von anderen Geräten gefährden seine Funktion. Daher muss jeder Schaltkreis einem EMV-Test standhalten bevor er in die Praxis darf.

Besteht er den Test ist alles gut. Doch fällt er durch, dann beginnt eine mühsame Fehlersuche. Zur Fehlersuche wird heute der Störimpuls eines ESD-Generators benutzt.

Jeder ESD-Generator sendet aber auch ungewollte elektrische und magnetische Störfelder aus. Die Störfelder ändern sich, wenn die Pistole gedreht oder geneigt wird. Diese Felder stören den IC zusätzlich. Ein ESD-Test mit einem herkömmlichen ESD-Generator ist nicht reproduzierbar und für die genaue Fehlersuche ungeeignet.

Der ESD-Generator P331-2 der Langer EMV-Technik GmbH ist frei von ungewollten elektrischen und magnetischen Störfeldern. ESD-Tests mit P331-2 sind punktgenau und eindeutig reproduzierbar.

Der ESD-Generator P331-2 ist so klein und geschirmt, dass jeder einzelne IC-Pin sicher getestet werden kann.

Den Test-IC setzen wir auf die Testleiterkarte (test board). Mit einer Fläche von 10 x 10 cm bietet der Ground Adapter genügend Platz für jeden IC.

Die Groundplane stellt ein einheitliches Bezugspotential für den ESD-Generator P331-2 und den Test-IC her. In die Groundplane ist das Connection Board integriert. Hier stehen Schnittstellen zur Verfügung, um den Test-IC mit Strom und komplexen Signalen zu versorgen. Außerdem können Testergebnisse des ICs ausgelesen werden. Zur direkten IC-Überwachung befinden sich auf dem Connection Board drei LEDs.

Zum Testaufbau gehört die Burst Power Station. Sie versorgt den ESD-Generator P331-2 mit Spannung und Steuersignalen. Mit der Software BPS 203-Client stellt man

die Spannung,
die Impulswiederholfrequenz
und die Polarität des ESD-Impulses ein.

Der Impuls des ESD-Generators P331-2 kann in den IC

über einen Vorwiderstand,
über ein Koppelnetzwerk
oder, wie in unserem Beispiel, direkt über den IC-Pin eingespeist werden.

Mit dem Oszilloskoptastkopf wird ein Signal des ICs überwacht. Nun wird der IC mit einem Störimpuls beaufschlagt. Wir erhöhen hier schrittweise die Spannung des ESD-Impulses. Wir sehen, dass der IC bei einer Spannung von 1,5 kV ausfällt. Mit der Probe P331-2 und dem IC-Testsystem lassen sich ESD-Tests an ICs rückwirkungsfrei durchführen.

Die Langer EMV-Technik GmbH bietet weitere Testsysteme für umfassende EMV-Tests an IC's an.

Downloads

User manual P331-2

Internal resistance	330 Ω
Pulse parameter
Shape	0.7 / 60 ns
Frequency	0.1 Hz - 10 Hz
Voltage	± (0.1 - 6) kV
Weight	250 g
Sizes (L x W x H)	(79 x 41 x 40) mm
Equivalent circuit
Pulse shape (standard)
Design, view 1

Technical parameters