XFS-R 3-1
Scannersonde 30 MHz bis 6 GHz
Kurzbeschreibung
Die Scannersonde XFS-R 3-1 dient der Messung von HF-Magnetfeldern mit hoher Auflösung auf der Baugruppe, z.B. im Bereich um Pins und Gehäuse von ICs, Leiterzügen Stützkondensatoren und EMV-Bauelementen.
Die Magnetfeldscannersonde XFS-R 3-1 ist für Messungen dicht an Bauelementen im Bereich hoher magnetischer Feldstärken geeignet. Die Nahfeldsonde hat eine Mantelstromdämpfung und ist elektrisch geschirmt. Die Nahfeldsonde wird an einen Spektrumanalysator oder ein Oszilloskop mit 50 Ω Eingang angeschlossen. Die Magnetfeldscannersonde besitzt intern einen Abschlusswiderstand.
Technische Parameter
| Frequenzbereich | 30 MHz ... 6 GHz |
| Auflösung | ≈ 1 mm |
| Maße Sondenkopf: | Ø ≈ 3 mm |
| Anschluss - Ausgang | SMA, male, jack |
| Frequenzgang [dBµV] / [dBµA/m] |
![Frequenzgang [dBµV] / [dBµA/m]](/fileadmin/Bilder300/Disturbance emission_near field probe_XFS-R 3-1_frequency response_en_wGM.png?v=1761634806841)
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| Korrekturkurve H-Feld [dBµA/m] / [dBµV] |
![Korrekturkurve H-Feld [dBµA/m] / [dBµV]](/fileadmin/Bilder300/Disturbance emission_near field probe_XFS-R 3_H-field correction curve_en_wGM.png?v=1761634806841)
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| Korrekturkurve Strom [dBµA] / [dBµV] |
![Korrekturkurve Strom [dBµA] / [dBµV]](/fileadmin/Bilder300/Disturbance emission_near field probe_XFS-R 3_current correction curve_en_wGM.png?v=1761634806841)
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| Messprinzip |
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