XFS-E 09s
Scannersonde 30 MHz bis 6 GHz
Kurzbeschreibung
Die Elektrode am Sondenkopf der Scannersonde XFS-E 09s erfasst elektrische Felder, die z. B. oberhalb der IC-Oberfläche ausgekoppelt sind. Die Auflösung der Sonde ermöglicht Messungen in einem Abstand von 0,5 mm bis 10 mm über einer Baugruppe. Zur Messung wird die E-Feldsonde auf das Messobjekt aufgesetzt.
Die XFS-E 09s ist eine passive Nahfeldsonde. Typischerweise wird der Sondenkopf direkt auf das Messobjekt aufgesetzt (hohe elektrische Feldstärke). Die Nahfeldsonde hat eine Mantelstromdämpfung und ihre Oberseite ist elektrisch geschirmt. Sie wird an einen Spektrumanalysator oder ein Oszilloskop mit 50 Ω Eingang angeschlossen. Die E-Feldscannersonde besitzt intern einen Abschlusswiderstand.
Technische Parameter
| Frequenzbereich | 30 MHz ... 6 GHz |
| Auflösung | ≈ 0.2 mm |
| Maße Sondenkopf: | ≈ (10 x 10) mm |
| Anschluss - Ausgang | SMA, male, jack |
| Frequenzgang [dBµV] / [dBµA/m] |
![Frequenzgang [dBµV] / [dBµA/m]](/fileadmin/Bilder300/Disturbance emission_near field probe_XFS-E 09s_frequency response_en_wGM.png?v=1731999611583)
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| Korrekturkurve E-Feld [dBµV/mm] / [dBµV] |
![Korrekturkurve E-Feld [dBµV/mm] / [dBµV]](/fileadmin/Bilder300/Disturbance emission_scanner probe_XFS-E09s_E-field correction curve_en_wGM.png?v=1731999611583)
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| Messprinzip |
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