XF Product family
XF-近场探头组（30MHz-6GHz）
Short description
XF系列探头包含5个无源磁场探头和4个无源电场探头，用于在电子模块研发阶段进行电场和磁场的测量，覆盖频率范围为30MHz到6GHz。这种探头内置阻抗匹配器，因而与其他探头（如RF型探头）相比在低频区域较不敏感。由于其频率范围宽并包含从很大到很小尺寸的各种探头，因而有着广泛的应用。探头的组合完全按照顾客的需求。
XF系列的探头可以用于逐步查找模块的干扰场源。我们建议，首先使用大型高灵敏探头从远距离查找模块的干扰放射源，然后再用更高分辨率的探头进一步精确定位干扰源。通过相应地操作近场探头，能够测量出电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。
这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻。
Delivery content
Technical parameters
| 频率范围 | 30 MHz ... 6 GHz |
| 接口 | SMA, male, jack |
Delivery content details
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XF-E 04s
电场探头（30MHz-6GHz）
这种近场探头可以检测受测对象（IC）耦合产生的电场。探头的侧面采用屏障设计，所以侧面作用的电场不影响测量结果。这种近场探头的灵敏度允许在0.5到10mm的距离检测集成电路及其他电子模块的电场。
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XF-E 09s
电场探头（30MHz-6GHz）
这种近场探头可以检测受测对象（IC）耦合产生的电场。探头的侧面采用屏障设计，所以侧面作用的电场不影响测量结果。这种近场探头的灵敏度允许在0.5到10mm的距离检测集成电路及其他电子模块的电场。
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XF-E 10
电场探头（30MHz-6GHz）
XF-E 10型电场探头底面的电极仅有约0.2mm宽，用于定位最小的电场，例如0.1mm宽的导线、高针数集成电路的单个引脚等发射的电场。测试时将该电场探头放置在受测物体上。
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XF-R 3-1
磁场探头（30MHz-6GHz）
XF-R 3-1型近场探头： 用于高分辨率直接检测组件上，譬如IC的引脚或外壳、布线、旁路电容器和电磁兼容性（EMC）元件等区域的射频磁场。
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XF-R 100-1
磁场探头（30MHz-6GHz）
XF-R 100-1型磁场探头用于测量模块、设备或电缆，可以在距离被测物3cm以内使用。利用该磁场探头能够识别较大组件是否为潜在的干扰源。这种磁场探头呈现很高的带宽和线性度。
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XF-R 400-1
磁场探头（30MHz-6Hz）
XF-R 400-1磁场探头 因较大的直径（25mm）而拥有很高的灵敏度，允许在10cm以内的距离测量模块和设备。
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XF-U 2.5-1
磁场探头（30MHz-6GHz）
XF-U 2.5-1型磁场探头是一个近场探头，用于选择性测量导线、SMD组件和IC引脚中的高频电流。这个探头有一个大约0.5mm宽的磁场敏感缺口，测量时将这个缺口放在布线、IC或者电容器的连接点上。
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XF-B 3-1
磁场探头（30MHz-6Hz）
XF-B 3-1型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置到电路板上时，其测量线圈直接平放在电路板的表面上。由此就能够测量到印刷电路板表面上很难达到的一些位置，如开关调节器的大元件之间的位置。
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SMA-SMA 1 m
SMA-SMA 测量电缆
“SMA-SMA 1 m”测量电缆是具有同轴结构的射频电缆，其波阻抗为50 Ω。
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Case CN