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集成电路的电磁兼容性干扰发射分析
Langer EMV-Technik in scientific research
资讯
10 P512 and DPI
09Surface Scan on IC Level with high Resolution
08 ESD and Efficient Electronic Design
07 EMC Measurement Technology for Testing Integrated Circuits - An Introduction
06 Measuring the Shielding Effectiveness at IC Level with the IC Test System P1402/P1502
05 Time and cost savings when recording and documenting RF measurements with a spectrum analyzer
04 Radiated Emissions at the PCB Level - An Introduction
03 消除脉宽调制 (PWM) 直流电机的电磁骚扰
使用朗格尔(Langer EMV-Technik GmbH)近场探头实现至6 GHz的测量
01 EMC实用技巧和建议 如何使用近场探头抑制LVDS连接的干扰
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P603, 1Ω高频电流表
P603
1Ω高频电流表
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Technical parameters
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Datasheet
Application with P603
Short description
P603是1Ω探头,用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。测量时,把它接到电源引脚(Vdd/Vss)或信号引脚上。1Ω高频电流表拥有针脚触点,借此可以接触到并对单个的引脚并进行测量。
Technical parameters
频率范围
9 kHz ... 3 GHz
耦合电容的容量
8 µF
测量输出
50 Ω, SMB
电压传递系数
-6 dB
电流表
分流器
1 Ω
电流修正系数 R
-6 dBΩ
电感
1 nH
最大功率损耗
2.5 W
频率特性
等效电路图
安装视图 01