H2 set
Different types of field source tips are offered for various measuring tasks. The tips allow for localization of the weak spots accurate to the millimeter and for detecting critical connections on the defined disturbing path, such as components, wires, or IC pins.
Delivery content
- 1x BS 02-h, 磁场源
- 1x BS 04DB-h, 磁场源
- 1x BS 05DB-h, 磁场源
- 1x ES 00-h, 电场源
- 1x ES 02-h, 电场源
- 1x ES 05D-h, 电场源
- 1x HV SHV-SMB 1 m
- 1x H case, System case
- 1x H3 m, H3系列操作指南
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Delivery content details
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BS 02-h
磁场源
BS 02-h磁场场源主要用于电路布局中的薄弱点定位。 它产生一个覆盖直径大约为5厘米的磁场束,能够较大面积地作用于电路外壳表面及其内部区域、连接部分、有导线的模块以及集成电路等区域,从而进行对磁场敏感薄弱点的识别和定位。
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BS 04DB-h
磁场源
BS 04DB-h型磁场源产生直径大约为3mm的磁场。借助其正面发出的磁场可以对印刷电路板的表面进行采样,这样就能消除电路布局和装配区域内的磁薄弱点。还可以定位关键的导体段,关键的组件和这些组件的连接。
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BS 05DB-h
磁场源
BS 05DB-h型磁场源从其探头的尖端发出直径大约为1mm微小磁场,因此适用于定位点状的薄弱点。借助其发出的微小磁场可以对印刷电路板和组件的表面进行采样。因其探头的微小直径和生成磁场的准确绑定而具有较高的分辨率。
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ES 00-h
电场源
借助ES 00-h型电场源可以大范围地定位电场敏感点。通常这些敏感区在组件(例如LCD显示器及总线系统)上会达到1~15cm。ES 00-h型电场源也可用于耦合例如组件电缆中的干扰电流。
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ES 02-h
电场源
该场源面积较大,能够大范围地向机箱表面,连接件,带导体结构的模块以及集成电路(如总线系统,液晶显示器)等施加耦合干扰电场。该场源的尖端部位,也可用于定位对电场敏感的较小结构(导线,晶振,上拉电阻,IC等)。
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ES 05D-h
电场源
ES 05D-h型电场源的探头内有一个狭窄的去耦合电极。因此适合于想导线、小型元件机器连接器、线缆及单个的元件施加电场。它还可以用于测量那些单个的插接件或扁平带状电缆的芯线。
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HV SHV-SMB 1 m