P202 / P302 L-EFT set

Langer 电快速瞬变脉冲耦合 SMA

这组试样用于确定强电流高电压下的集成电路的抗脉冲干扰性。与P211和P311相比，这组试样会产生更强的电流和和更高的电压。在对猝发序列或静电放电设备检测时，在设备中使用的集成电路的引脚处存在被衰减的干扰脉冲。P200/P300系列的试样可以模拟这些被衰减的干扰脉冲，从而在集成电路的工作过程中对每一个引脚进行抗干扰性分析。P200系列试样针对电流耦合的参数需要根据电子元件组中的磁场脉冲耦合原理确定。P300系列试样针对电压耦合的参数需要根据电子元件组中的电场脉冲耦合原理确定。

P250 set

P1202-4 / P1302-4 set

电快速瞬变脉冲群场耦合

电快速瞬变脉冲群场耦合探头组中包含的场源产生电场的和磁场的电快速瞬变脉冲群场。这些场可以确定地、可复现地加载在集成电路上，从而确定集成电路对电快速瞬变脉冲群场的抗干扰性。 其背景是扁平元件组和电子设备的电快速瞬变脉冲群抗干扰性。这些设备要经受电快速瞬变脉冲群测试（IEC 61000-4-4）。测试时与扁平元件组耦合的电快速瞬变脉冲群干扰会产生电场和磁场。产生的场作用于扁平元件组的表面，并且能穿过集成电路的外壳。若这些场穿过集成电路，则在集成电路中产生干扰过程。 因此除了在集成电路引脚上的与电路耦合的电快速瞬变脉冲群干扰之外，磁场和电场对集成电路的影响也是一个很主要的干扰途径。

H4-IC set

电快速瞬变脉冲群磁场源组

BS 06DB-s型磁场源用于生成电快速瞬变脉冲群磁场。通过一根高压电缆和电快速瞬变脉冲群发生器（IEC 61000-4-4），将电快速瞬变脉冲群电流信号注入到该场源，能够产生极小面积（2.54 mm²）的高强磁场（约 200mT），因此特别适合向IC进行场耦合。该场源既可用于扫描仪，也可用于手持操作。标准配置中还包括一根连接电缆，两端分别为 SMB（SMB 场源输出端）和 Fischer插头 S103A023。

H5-IC set

电快速瞬变脉冲群磁场源组