View product: ESA1 set - 干扰放射开发系统

Summary

在远场测量中所能确定的是：哪些干扰由我们的测试样品发出。
但却无法辨别，确切哪一个部件造成这些干扰。
使用"干扰发射开发测量系统 ESA1"我们就可将其找出。
该系统包括屏蔽罩和多种配件。
电子元件开发人员可直接在其工作场地
测量并排除试样中的干扰源。
屏蔽罩创造一个无干扰的空间 ——
直接位于开发人员的工作场地。
可以在此运行试样，
并测量其干扰发射。
在测量设备构建的小型空间内，
试样发出高频电流，
该电流通过高频变流器HFW 21去耦。
测量使用频谱分析仪进行。
高频变流器HFW 21向试样提供辅助电能。
同时，试样内产生的干扰通过HFW 21去耦。
HFW 21 内含一个测量转换器，它采集干扰信号
并将测量信号通过频谱分析仪上的前置放大器转发。
例如，可以将HFA代替电缆连接在试样上。
从而简化测量中复杂的仪器搭建。
高频旁路器HFA通常相对于高频变流器连接于试样的另一侧。
我们看到：在20MHz至100MHz的范围内有强烈的干扰。
使用ChipScan-ESA软件我们将测量曲线保存。
该软件也是一款我们自主开发的产品。
使用该软件我们可以记录任意多的频谱分析仪测量曲线，
并对其进行注释、保存、可视化处理、方便迅捷地作出相互比较。
为了对我们的试样进行干扰原因的准确定位，
我们使用近场探头。
供货范围包括
不同尺寸和定位方向的磁场探头，
以及带各类耦合电极的电场探头。
在我们的示例中，干扰原因是换流器。
我们用铜纸贴对换流器部分进行屏蔽......
......在用ESA进行第二次测量时，
可以在频谱分析仪上看到测量曲线的降低。
为了进行准确的对比，我们将这一曲线也保存在
ChipScan-ESA软件中并将其标红。
干扰成功地降低了20dB。
使用软件ChipScan-ESA
和干扰发射开发测量系统ESA1
我们可以直接在工作场地进行测量，降低了工作量和成本。
我们可以有针对性地确定干扰源，测试对应措施的效果。

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