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Langer EMV-Technik in scientific research
资讯
10 P512 and DPI
09Surface Scan on IC Level with high Resolution
08 ESD and Efficient Electronic Design
07 EMC Measurement Technology for Testing Integrated Circuits - An Introduction
06 Measuring the Shielding Effectiveness at IC Level with the IC Test System P1402/P1502
05 Time and cost savings when recording and documenting RF measurements with a spectrum analyzer
04 Radiated Emissions at the PCB Level - An Introduction
03 消除脉宽调制 (PWM) 直流电机的电磁骚扰
使用朗格尔(Langer EMV-Technik GmbH)近场探头实现至6 GHz的测量
01 EMC实用技巧和建议 如何使用近场探头抑制LVDS连接的干扰
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射频耦合
射频耦合
These probes allow for conducted and radiated HF coupling into an IC.
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